Semiconductor

M-POGO Vertical Probe Card

루켄의 프로브 카드는 MEMS기술에 Design혁신을 통해 개발된 Vertical Probe Card로서, 초스피드, 미세피치, 광범위한 온도요구조건에 적합한 M-POGO Vertical Probe Card를 제공합니다.

Specifications

Array Min Pitch 65μm
Min Pad Dimension 40 * 40μm
Operating Temp -40 ~ 150℃

M-POGO Vertical Probe Card for MEMORY

Memory vertical probe card incorporates M-POGO Pin, hybrid Interposer, and MDB (M-POGO Device Block) technology

M-POGO Vertical Probe Card for LOGIC

Logic vertical probe card incorporates M-POGO pin, MLO(Multi Layer Organic), MDB technology

Key Parameters Descriptions
Available Contact Type Pad, Pillar, Pillar Bump, Bump Type
Suitable Materials Aluminium, Solder Ball, Palladium, Cooper, Gold, Diverse
M-POGO Vertical Probe Pin Fine Pitch / High Density
Low Pressure Power Minimize for chuck force of Prober
MLC Skip Patterned Wafer Cost reduction, Short Lead Time.
Discrete DUT (Block Type) Effective Maintenance, Repair flexibility, Design Flexibility

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